太陽(yáng)能組件EL測(cè)試儀丨暗箱式
Product?name?產(chǎn)品名
→Subassembly EL tester 太陽(yáng)能組件EL測(cè)試儀
Function 功能
→Interpretable defect 可判斷缺陷：碎片，斷柵，隱裂，黑邊，燒結(jié)網(wǎng)紋，低效率片，衰減，低效率等..
Product advantage 特點(diǎn)
→ 適用于抽檢和離線的測(cè)試，操作簡(jiǎn)單快捷
→ 可對(duì)在任何生產(chǎn)工藝過(guò)程中的組件進(jìn)行EL測(cè)試，起到生產(chǎn)把控的作用
→ 可在有陽(yáng)光的區(qū)域進(jìn)行測(cè)試，適用于多種環(huán)境
Application 應(yīng)用
→Object測(cè)試對(duì)象：光伏單晶/多晶組件（層前 層后 裝框后）
→Scope測(cè)試范圍：0~2300*1200mm
→Option測(cè)試選擇：高電流；低電流
Technical?specifications 技術(shù)規(guī)格
→Test method測(cè)試方式： 翻蓋抬放組件檢測(cè)
→Camera相機(jī)：
- 芯片：索尼
-?像素：像素1600萬(wàn) CMOS （像素提供選擇搭配）
- 曝光時(shí)間：1~30 S可調(diào)
→Frequency測(cè)試周期：10 s
→Current option電流選擇:
高電流：8—10A
低電流：0.1—3A
→Software軟件：
圖像放大，剪切，條碼顯示
缺陷分類保存，條碼掃描，條碼查詢
檢測(cè)監(jiān)控，缺陷統(tǒng)計(jì)等...
功能選擇：高電流，低電流
調(diào)試模式：灰度對(duì)比度調(diào)整，增益，識(shí)別功能
| 配置 | 參數(shù) | 數(shù)量 |
|---|---|---|
| 探測(cè)器 | 1600萬(wàn)像素 、2400萬(wàn)像素、3600萬(wàn)像素（選1） | 1 |
| 測(cè)試模式 | 翻蓋式 | 1 |
| 測(cè)試范圍 | 2500mm*1200mm | 1 |
| EL電源 | 0~100V；0~20A；±0.1% | 1 |
| 測(cè)試對(duì)象 | 常規(guī)單多晶太陽(yáng)能組件 | 1 |
| 適用類型 | 層壓前 、層壓后 | 1 |
| 電源需求 | AC220V? 15A | 1 |
| 氣源需求 | 0.6~0.8MPa | 1 |
萊科斯致力于光伏檢測(cè)設(shè)備的研發(fā)生產(chǎn)與銷(xiāo)售，半自動(dòng)組件EL檢測(cè)儀-翻蓋式，其適用于離線式檢測(cè)，多適用于廠家組件的抽檢以及實(shí)驗(yàn)室組件的檢測(cè)，萊科斯提供多種像素選擇以及外觀/多相機(jī)高清EL集成服務(wù)！
